金相顯微鏡常用觀察分析方法

金相顯微鏡常用觀察分析方法

金相顯微鏡被兩種常見的光照亮: 直射光(明場)和斜射光(金相) :

1、明場:

直接照射在樣品上觀察同一腐蝕介質(zhì)中由于樣品表面不同顆粒或相的化學(xué)性質(zhì)不同而導(dǎo)致的溶解不均勻性，從而引起反射率的差異來揭示組織成分。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數(shù)碼金相顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計算機圖像處理技術(shù)完美地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進(jìn)行分析，評級等以及對圖片進(jìn)行輸出、打印。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。工業(yè)視頻顯微鏡將傳統(tǒng)的顯微鏡與攝像系統(tǒng),顯示器或者電腦相結(jié)合,達(dá)到對被測物體的放大觀察的目的。

2、金相:

采用了從物鏡外斜射照明,使樣品的鏡面呈現(xiàn)暗的視野,使表面上的微小浮凸的反射光之間產(chǎn)生足夠大的對比而被顯示設(shè)計出來.如浮凸顆粒是透明或半透明的,經(jīng)內(nèi)界面通過漫反射的光亦將自己進(jìn)入一個物鏡.這對中國金屬和合金材料中的微缺陷和非金屬夾雜物的鑒定結(jié)果分析是很有用的.

金相顯微鏡特殊的觀察方法：

1、偏振光觀察：

主要發(fā)展特點是通過利用現(xiàn)代平面偏振光照射到試樣表面上,考察目的物對平面偏振光的橢圓化效應(yīng).這種效應(yīng)可反映目的物有關(guān)中國光學(xué)對稱性的信息,從而提高判斷能力它是一種晶體各向同性或各向異性.照明用的平面偏振光經(jīng)起偏鏡得到;橢圓化效應(yīng)則用檢偏鏡檢查.它主要技術(shù)應(yīng)用于學(xué)生辨認(rèn)各向異性晶體存在不同價值取向的區(qū)域,或透明夾雜物的透視顏色.如果在企業(yè)垂直照明器和檢偏鏡之間沒有放入其中一個非常靈敏色輝板,樣品的各個方面晶粒就可以由它們的特征選擇顏色辨認(rèn).色輝板可以直接用來作為測定晶體擇優(yōu)取向一定程度并及時回復(fù)和再結(jié)晶的研究,也可以對多相合金公司相分析及對非金屬夾雜物情況分類鑒定.在特定歷史條件下還可以根據(jù)研究磁疇結(jié)構(gòu).

2、干涉觀察：

擁有屬性是在顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)中加入一個特別設(shè)計的光學(xué)裝置，這樣當(dāng)光線通過時就會分成兩束。另一束光線從比較板反射到目鏡上。當(dāng)兩束反射光在光束分離器上相遇時，它們會相互干涉，干涉條紋的形狀可以用來判斷微小凹凸的空間形狀，條紋位移與相鄰條紋間距的比值可以用來判斷微小凹凸的空間形狀，量化浮子的高度。隨著多光束干涉技術(shù)的發(fā)展，干涉條紋越來越窄，高差測量的靈敏度也越來越高

3、相襯觀察：

使用相位差信息(由樣品表面上的輕微起伏引起的相位差)，反射光被減弱至接近衍射光的振幅，并且反射光的相位被改變?yōu)榕c衍射光的相位同相或π不同。該裝置是在普通顯微鏡的物鏡和目鏡之間的適當(dāng)位置放置一個環(huán)形相位差板，對反射光削弱和相移，然后放置相應(yīng)的環(huán)形光闌，使不同表面高度引起的光學(xué)相位差轉(zhuǎn)化為振幅差。提高各種組織之間的對比度。新近發(fā)展起來的顯微干涉技術(shù)，將相位襯度和顯微干涉技術(shù)相結(jié)合，可以顯示顏色襯度的細(xì)微起伏，*有效地提供表面精細(xì)組織的信息。